型号：DektakXT

        DektakXT  探针式轮廓仪采用革命性的台式设计，可实现4Å（0.4nm）的优异重复性，扫描速度可提高40%。探针式轮廓仪性能的这一重大突破是Dektak  五十多年创新和行业领导地位的顶峰。DektakXT结合了行业领先的技术和设计，可提供高性能、易用性以及价值，实现从研发到质量控制的更好过程监控。DektakXT的技术突破为微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、医疗和材料科学行业的关键尺寸的纳米级表面测量提供支持。

┃ 设备特点

• 台阶高度重复性优于4Å

• Single-arch拱型结构设计，卓越的稳定性

• 先进的“智能电子器件”设立了新低噪音基准

• 新硬件配置使数据采集时间缩短40%

• 64-bit多核处理器，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了10倍

• 针尖自动校准系统，让用户轻松更换针尖

• 单传感器设计，提供单一平面上低作用力和宽扫描范围