精密离子减薄仪用于高质量透射电镜样品的制备，它可精确定位减薄位置并对工艺参数进行精确控制。

┃ 设备特点

• 使用 X、Y 样品台来把减薄区域精确定位到离子束交叉点

• 改进低电压性能的离子枪，有用电压低至 100 伏，从而快速安全地对 FIB 制备的TEM样品进行抛光

• 利用 DigitalMicrograph  软件和光学数码显微镜进行图像存储和分析

• 10 英寸彩色触摸屏可用于显示和控制所有 PIPS  II 参数