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低温探针台系列
    发布时间: 2024-06-24 14:22    

低温探针台主要用于电学、磁学、微波、THz、光学等多种测量，可以根据客户需要，选择不同的温度和磁场配置。客户可以选择自己搭配测试仪表集成各类测试，也可以选择我们的整体测试解决方案，如电输运测试、半导体分析测试、霍尔效应测试、铁电分析测试，集成光学测试等。

低温探针台系列

        低温探针台主要用于电学、磁学、微波、THz、光学等多种测量，可以根据客户需要，选择不同的温度和磁场配置。客户可以选择自己搭配测试仪表集成各类测试，也可以选择我们的整体测试解决方案，如电输运测试、半导体分析测试、霍尔效应测试、铁电分析测试，集成光学测试等。



┃ 设备特点


  • 最大±2.5T磁场，可定制5T磁场

  • 低温至1.6K，高温至675K

  • 最大可测8英寸晶圆样品

  • 最高67GHz高频探针

  • 3 kV 高电压探针

  • 大温区低温漂探针

  • 真空腔联用传送样品

  • ＜30 nm低振动适用于显微光学测量

  • 霍尔效应、铁电、半导体分析测试选件

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