设为首页加入收藏
欢迎光临盈思拓科技网站，服务热线：18600717106 / 17710506869
☏
m
搜索
网站首页 ∷ 测试设备 ∷ 光学测试设备 ∷ 劳厄衍射系统 ∷ PSEL劳厄衍射系统
当前位置：
搜索
产品搜索
PSEL劳厄衍射系统
    发布时间: 2024-06-24 14:22    

该设备利用背衍射法探测材料的晶体结构，常用于单晶定向、测定晶体对称性、表征晶体的成晶质量等。支持实时成像和累计曝光两种工作模式，最长曝光时间达30分钟，最短可至毫秒。空间分辨率高、用户界面直观。

PSEL劳厄衍射系统

        该设备利用背衍射法探测材料的晶体结构，常用于单晶定向、测定晶体对称性、表征晶体的成晶质量等。支持实时成像和累计曝光两种工作模式，最长曝光时间达30分钟，最短可至毫秒。空间分辨率高、用户界面直观。



┃ 设备特点


  • PSEL软件定向误差低至0.05度

  • 多晶硅片二维定向mapping

  • 大批量样品筛选

  • 超20kg重负荷样品定位

上一个： 无
下一个： 无