ZEM-3系列热电特性评价装置是一种同时测量热电材料的热电率(塞贝克系数)和电导率的装置。测量温度范围为-80°C至1000°C,设备操作简单。
┃ 设备特点
采用温度可控性优异的红外线金像加热炉和温差控制用微加热器
测量由计算机控制,可以在规定温度下对各温差进行测量,也可以消除暗电动势等自动测量
标配自动欧姆接触检查(V-I图)
可选附件可用于测量薄膜
可定制为高电阻